한울반도체가 자체 소프트웨어와 하드웨어 기술을 적용해 분당 1000개 이상 부품을 처리할 수 있는 인덱스(Index) 타입 고속 검사장비를 개발했다고 4일 밝혔다. 기존 장비가 분당 650개 수준에 머물렀던 한계를 넘어선 성과로, 일본 설비 의존도가 높았던 시장에서 국산화를 실현했다는 설명이다.

인덱스 타입 고속 검사장비는 차량용 인덕터, 탄탈 캐패시터, 발광다이오드(LED) 패키지 등 다양한 전자부품의 대량 검사를 목적으로 한다. 한울반도체는 정밀 피더 기술과 고속 인덱싱 기술, 병렬 AI 검사 알고리즘을 결합해 속도와 정확도를 동시에 확보했다. 이를 통해 고객사의 생산성과 품질 관리 요구에 대응하고, 대량 양산 환경에 적합한 검사 솔루션을 제공할 수 있게 됐다고 밝혔다.

회사 관계자는 이번 장비 개발이 일본산 장비가 주도하던 시장에서 국산화 성과를 거둔 사례라며, AI 기반 스마트 검사 기술을 고도화해 글로벌 시장 경쟁력을 강화하고 수출 확대 기반을 마련하겠다고 말했다.

한편 한울반도체는 AI 머신비전 기술을 적용해 80마이크로미터(µm)급 도금핀 고속 외관검사기를 국내 최초로 상용화했다. 도금핀은 반도체와 기판을 연결해 전기 신호를 전달하는 차세대 초미세 부품으로, 유리기판 웨이퍼 공정의 핵심 요소로 평가된다.

이와 함께 100µm 공업용 다이아몬드 전수검사기 개발도 완료했으며, 국내외 고객사와 공급 계약을 협의 중이라고 밝혔다.